在所有的射線檢測(cè)技術(shù)中，膠片射線照相技術(shù)發(fā)展最早，而數(shù)字式射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)則發(fā)展最快。與膠片照相技術(shù)相比，數(shù)字式射線成像技術(shù)的成像質(zhì)量與膠片照相技術(shù)相當(dāng)，在檢測(cè)的實(shí)時(shí)性、效率、經(jīng)濟(jì)性和易用性等方面則有著無可比擬的優(yōu)越性，因而得到了快速的發(fā)展。目前，具備一定智能識(shí)別能力的實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)應(yīng)用于復(fù)合材料產(chǎn)品的在線檢測(cè)，可對(duì)裝配線上的工件進(jìn)行實(shí)時(shí)快速檢測(cè)，成為確保產(chǎn)品合格率的重要檢測(cè)手段。

層析攝影也叫計(jì)算機(jī)斷層掃描成像( ComputedTomography，即CT) ，該技術(shù)是利用X 射線探測(cè)物體的內(nèi)部，通過測(cè)定射線的衰減系數(shù)，采用數(shù)學(xué)方法，經(jīng)計(jì)算機(jī)處理，求解出衰減系數(shù)值在某剖面上的二維分布矩陣，轉(zhuǎn)變?yōu)閳D像畫面上的灰度分布，從而實(shí)現(xiàn)建立斷面圖像的成像技術(shù)。通過分析斷層面內(nèi)密度的分布，就可以獲得復(fù)合材料內(nèi)部密度均勻性、微孔隙體積含量與分布等方面的信息。一般來說，CT 照片的對(duì)比度比X 射線照片的對(duì)比度要低，但因消除了不同層面圖像疊加重影問題，實(shí)際可讀性強(qiáng)于X 射線照片。不過CT 成像原理決定了密度高的物質(zhì)會(huì)在一定程度上被放大，這也就導(dǎo)致了分層、孔隙、裂紋等損傷圖像的尺寸比實(shí)際尺寸略小而纖維堆積等密度高的缺陷圖像比實(shí)際尺寸略大的特有現(xiàn)象。

總的來說，CT 掃描成像的技術(shù)具有以下特點(diǎn):

• 高空間分辨率和密度分辨率( 通常＜0. 5%)

• 高動(dòng)態(tài)檢測(cè)范圍( 從空氣到復(fù)合材料再到金屬材料) ;

• 成像尺寸精度高;

• 在穿透能量足夠的情況下，不受試件幾何結(jié)構(gòu)限制。

局限性表現(xiàn)為: 檢測(cè)效率低、檢測(cè)成本高、雙側(cè)透射成像、不適合于平面薄板構(gòu)件的檢測(cè)以及大型構(gòu)件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。利用CT 成像技術(shù)可以有效檢測(cè)先進(jìn)復(fù)合材料中的孔隙、夾雜、裂紋等缺陷，也可以測(cè)量材料內(nèi)部的密度分布情況，如材料均勻性、微孔隙含量等。在工業(yè)應(yīng)用上，美國在上世紀(jì)八十年代就研制出了用于檢測(cè)大型固體火箭發(fā)動(dòng)機(jī)復(fù)合材料殼體的工業(yè)CT 設(shè)備，并逐漸將該技術(shù)應(yīng)用于其它復(fù)合材料結(jié)構(gòu)的無損檢測(cè)中，我國也于上世紀(jì)90 年代后期成功地將工業(yè)CT 技術(shù)應(yīng)用于C /C 復(fù)合材料、碳/酚醛復(fù)合材料等的檢測(cè)，解決了一些關(guān)鍵性的無損檢測(cè)技術(shù)難題，取得了較好的經(jīng)濟(jì)效益與社會(huì)效益。

康普頓背散射成像( CST ) 技術(shù)是一種新的射線檢測(cè)技術(shù)，它具有單側(cè)非接觸、檢測(cè)靈敏度高、快速三維成像的特點(diǎn)，對(duì)低密度材料的檢測(cè)可獲得比透射成像更高的圖像對(duì)比度，非常適合于復(fù)合材料等原子序數(shù)較低材料的物體。當(dāng)被檢物體結(jié)構(gòu)復(fù)雜，或無法進(jìn)行雙側(cè)成像檢測(cè)時(shí)，CST 技術(shù)就顯示出了獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。目前，CST 技術(shù)在國外航空航天領(lǐng)域已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用，在國內(nèi)，尚處于探索性研究階段。